Главная » Блоги » nikst's блог

Обсуждаются вопросы метрологии и стандартизации в нанотехнологиях

Опубликовано nikst в 12 октября, 2010 - 12:29 -->

Вопросы метрологии и стандартизации в нанотехнологиях обсудят в РИА «Новости»

14 октября 2010 года в 10–00 в РИА «Новости» состоится видеомост, посвященный вопросам метрологии и стандартизации в нанотехнологиях

minobrnauki_0.gif .

В работе видеомоста примут участие Директор Департамента приоритетных направлений науки и технологий Министерства образования и науки РФ Валерий Качак, заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии Владимир Крутиков, Заместитель директора ВНИИ оптико–физических измерений Юрий Золотаревский, Заместитель директора Уральского научно-исследовательского института метрологии Сергей Медведевских, Заместитель директора Сибирского научно-исследовательского института метрологии Геннадий Шувалов, Начальник сектора метрологического обеспечения нанотехнологий технического отдела Ростовского центра стандартизации, метрологии и сертификации Сергей Голосной, представители производителей метрологического оборудования.

  • В рамках видеомоста участники обсудят промежуточные результаты, достигнутые по направлению «Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии» в сфере метрологии и стандартизации в рамках ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии на 2008–2011», расскажут о создании Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии, а также о деятельности региональных отделений Центра.

Одной из центральных тем дискуссии станет тема соответствия российских стандартов и эталонов в области нанотехнологий международным стандартам.

  • По вопросам аккредитации обращаться к Екатерине Котовой: +7–916–820–58–97

http://mon.gov.ru/
nikst аватар
Опубликовано nikst в 12 октября, 2010 - 12:47.

Да уж… Вопросы стандартизации и метрологии являются очень важными и значительными. Они буквально пронизывают все остальные работы в области нанотехнологий…

  • В рамках видеомоста участники обсудят промежуточные результаты, достигнутые по направлению «Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии» в сфере метрологии и стандартизации в рамках ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии на 2008–2011», расскажут о создании Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии, а также о деятельности региональных отделений Центра. Одной из центральных тем дискуссии станет тема соответствия российских стандартов и эталонов в области нанотехнологий международным стандартам.

Успехов в работе заседания и новых достижений в области метрологии и стандартизации!..

nikst аватар
Опубликовано nikst в 15 октября, 2010 - 15:59.

Вопросы метрологии и стандартизации в сфере нанотехнологий обсудили в РИА «Новости»

14 октября 2010 года в РИА «Новости» состоялся телемост, посвященный вопросам метрологии и стандартизации в сфере нанотехнологий. Телемост связал четыре крупных научно-промышленных центра России – Москву, Екатеринбург, Новосибирск и Ростов-на-Дону

  • Участники телеомоста сообщили журналистам о промежуточных результатах работы Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии, созданного в рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии Российской Федерации на 2008–2011 годы».

Сергей Остапюк, начальник отдела наносистем и материалов департамента приоритетных направлений науки и технологий Министерства образования и науки Российской Федерации, напомнил собравшимся о том, что цель данной Программы – создание современной инфраструктуры нанотехнологической сети для реализации потенциала России в этой области. С. Остапюк подчеркнул:

«Фактически речь идет о создании целой отрасли. Наше обсуждение показывает, что нанотехнологии сегодня уже не только политика и перспективные проекты, но формирующийся сектор реальной экономики, взаимосвязанная инновационная цепочка от фундаментальных исследований до коммерческого производства. И метрологические центры в области нанотехнологий, созданные Минобрнауки России в рамках ФЦП – необходимый и важный элемент инфраструктуры наноиндустрии».

«Метрологический центр создавался с таким расчетом, чтобы охватить наиболее крупные научные и промышленные центры России. Уже сейчас в России существует 140 методик стандартизации нанопродукции», – пояснил заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии Владимир Крутиков.

В свою очередь, представители региональных отделений рассказали о деятельности в рамках Центра, целях и задачах на ближайшее будущее и перспективах его развития. Например, ростовское отделение Центра после подготовительных работ и дооснащения существенно расширил имеющиеся области аккредитации работ и предоставления метрологических услуг в сфере нанотехнологий. В ближайшее время планируется существенное расширение измерительных возможностей отделений на основании выявленных потребностей предприятий наноиндустрии.

  • Планируются совместные работы отделений Центра, в результате которых будет отработано взаимодействие в информационной и технической области, что даст возможность наиболее полно использовать ресурс распределенной структуры.

Как считают эксперты, потребность в метрологических данных существует в условиях промышленного выпуска любой, и особенно – нанотехнологической продукции.

«Там, где есть производство, есть и метрология», – подчеркнул Начальник сектора метрологического обеспечения ФГУ «Ростовский ЦСМ» Сергей Голосной.

http://mon.gov.ru/