Гендиректор «НТ-МДТ»: основы нанометрологии должны создаваться в вузах

МОСКВА, 26 окт – Необходимость внедрения новых методов нанометрологии для контроля качества новых материалов, в частности, в таких областях, как микро- и наноэлектроника, требует создания новых образовательных программ, такое мнение высказал во вторник генеральный директор ЗАО «НТ-МДТ» Виктор Быков

.

«Реальность нанотехнологий ощущается в появлении новых материалов, компьютеров, лекарств. Их производство, в свою очередь, требует новой метрики, разработки и утверждения стандартов, тестовых структур специальных приборов, на которых можно производить контрольные измерения и поверки», – сообщил Быков в своем докладе на второй всероссийской школе-конференции для молодых ученых «Макромолекулярные нанообъекты и полимерные нанокомпозиты».

Внедрение нанотехнологии в промышленность требует подготовки соответствующих специалистов. Для этого необходимо создавать соответствующие курсы и специальности в вузах, а в недалеком будущем – и в общеобразовательных школах, считает эксперт. По его мнению, это требует разработки соответствующего оборудования для лабораторий, виртуальных приборов, учебников, курсов лабораторных работ.

• На конференции, организованной Институтом синтетических и полимерных материалов имени Ениколопова РАН, госкорпорацией «Роснано», МГУ имени Ломоносова, обсуждаются современные методы получения полимерных нанообъектов и нанокомпозитов, а также вопросы их применения в реальном секторе экономики.

http://www.rian.ru/…9515523.html