Модернизация промышленных производств требует новых подходов к парку инструментов измерения и контроля. Главный тренд в развитии метрологического оборудования состоит в переходе от предельных разрешений оптических методов (0,2–0,5 мкм) к масштабу линейных размеров в сотни, десятки и единицы нанометров. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) сегодня является наиболее распространенным методом для измерения линейных размеров в диапазоне 10–6 – 10–9 м.

Основные направления конференции:

1. Компактная лабораторная диагностика (серийное измерение типовых образцов).
2. Дефектоскопия, неразрушающий контроль в условиях производственных предприятий.
3. Сложные современные лабораторные комплексы для исследования поверхностей.

В работе научно-практической конференции примут участие специалисты, использующие оборудование для СЗМ, глубоко понимающие возможности и ограничения этого нового исследовательского подхода.

Модератор Конференции: Голубок Александр Олегович, заместитель директора ИАП РАН, заведующий кафедрой Нанотехнологий и материаловедения НИУ ИТМО.

Организатором конференции является «Инженерный Клуб»

Генеральным партнером Конференции: ФБУ «Тест-С.-Петербург»

Официальный Партнер Конференции: ЗАО «НТ-МДТ»

Конференция состоится 6 декабря 2011 года в 15:00, по адресу Санкт-Петербург, ул. Лодейнопольская, 5, Конгрессный Центр «ПетроКонгресс».

К участию в конференции приглашаются представители промышленных предприятий, научно-исследовательских институтов, ВУЗов Санкт-Петербурга.

По вопросам участия обращаться в Организационный комитет Клуба:

Тел. / Факс: +7(812) 655–09–13

Контактное лицо: Бирюкова Любовь Николаевна

E-mail: biryukova.l@enginclub.ru