Научно-практическая конференция «Спектрометры микро-КР фирмы «Renishaw»

Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.

Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу https://n-n-n.ru.
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.

Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru

С 3-го по 4-е октября 2011 года в Инновационно-технологическом центре СПбГУ ИТМО по адресу г. Санкт-Петербург, Биржевая линия, д. 14 пройдет научно-практическая конференция «Спектрометры микро-КР фирмы «Renishaw».

Компания Renishaw plc, совместно с дилером компании в России ООО «Renishaw» и Санкт-Петербургским государственным университетом информационных технологий, механики и оптики (СПбГУ ИТМО), организуют научно-практическую конференцию «Спектрометры микро-КР фирмы «Renishaw», посвященную демонстрации возможностей спектрометра микро-КР «inVia Renishaw» для аналитических и научных приложений.

На конференции будут зачитаны доклады ведущих специалистов компании Renishaw, а также доклады пользователей спектрометра микро-КР «inVia Renishaw» из таких организаций, как

  • СПбГУ ИТМО,
  • Санкт-Петербургский государственный горный университет,
  • Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова,
  • Институт физики металлов УрО РАН,
  • Институт экспериментальной минералогии РАН и др.

Во время конференции будет проведена экспериментальная демонстрация возможностей спектрометра микро-КР «inVia Renishaw»:

  • высокой чувствительности на примере регистрации спектров КР одно- и многослойного графена и углеродных нанотрубок;
  • преимуществ быстрого изменения длины волны возбуждения в спектроскопии резонансного КР на примере полупроводниковых – квантовых точек;
  • возможности 2D картирования на примере алмазных микрочастиц, случайно распределенных на подложке.

Участие в конференция предоставит возможность уже существующим российским пользователям спектрометров «inVia Renishaw», а также специалистам, планирующим использование техники микро-КР для решения различных научных и прикладных задач в интересующих их областях приложений:

  • получить информацию из первых рук о новых опциях спектрометров «inVia Renishaw»,
  • услышать о результатах, уже полученных с использованием спектрометров микро-КР «inVia Renishaw»,
  • увидеть экспериментальную демонстрацию возможностей спектрометра для решения ряда задач.

Регистрация участников конференции будет происходить 3 и 4 октября с 10:00 по адресу г. Санкт-Петербург, Биржевая линия, д. 14, Инновационно-технологический центр СПбГУ ИТМО.

Участие в конференции бесплатно.

Для участников будет организовано питание и прохладительные напитки. Планируется экскурсия в Музей оптики СПбГУ ИТМО.

Конференция будет проходить на русском и английском языках.

Дополнительная информация

Конференция посвящена применению спектроскопии КР с использованием спектрометров микро-КР фирмы «Renishaw» при решении научных и прикладных задач в различных областях.

На конференции будут представлены доклады представителей фирмы о новых возможностях использования спектрометра «inVia Renishaw», доклады об оригинальных исследованиях с использованием этого спектрометра, а также «inVia Renishaw», экспериментальная демонстрация возможностей спектрометра на ряде примеров.

Новые возможности:

  • Быстрое рамановское картирование
  • Зондовая спектроскопия микро-КР (TERS)
  • Комбинирование рамановского спектрометра с другими аналитическими приборами

Области применения:

  • Материаловедение
  • Нанотехнологии
  • Геология
  • Химия

На конференции будут продемонстрированы экспериментальные демонстрации возможностей спектрометра микро-КР «inVia Renishaw»:

3-го октября

  • высокая чувствительность спектрометра на примере регистрации спектров КР графенов и углеродных нанотрубок;
  • преимущества быстрого изменения длины волны возбуждения в спектроскопии резонансного КР на примере CdSSe
  • полупроводниковых квантовых точек.

4-го октября возможности 2D картирования на примере алмазных микрочастиц, случайно распределенных на подложке.

Пожалуйста, оцените статью:
Пока нет голосов
Источник(и):

rusnanonet