Метрология-2008

С 3 по 5 июня 2008 года на территории Всероссийского выставочного центра пройдет Международная выставка средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2008».

Специальный приз выставки «Метрология»

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» выступили с инициативой организации на выставке специализированного раздела, отражающего современное состояние измерений и испытаний наноматериалов и созданной на основе наноматериалов продукции, перспективы создания системы оценки и подтверждения соответствия и обеспечения безопасности использования нанотехнологий и продукции наноиндустрии, а также пути развития стандартизации и нормативного обеспечения в сфере нанотехнологий и наноматериалов.

Приглашаются все заинтересованные организации и предприятия представить разработки, обеспечивающие решение проблем измерений и подтверждения соответствия продукции наноиндустрии, в разделе нанотехнологий на выставке «Метрология-2008», которые могут стать для его участников основой долгосрочного сотрудничества и будут способствовать успешному развитию работ в этом перспективном направлении науки и техники.

Информацию об условиях можно получить

• по телефону: (495) 937–40–23,
• по электронной почте: metrol@expoprom.ru и
• на сайте: metrol.expoprom.ru

http://www.nanometer.ru/…4_52126.html

См. также здесь:

ГК «Роснанотех» примет участие в выставке «Метрология-2008»

http://www.nanonewsnet.ru/…ologiya-2008

Ещё одно напоминание о предстоящей выставке. Если ещё не приняли решение об участии в ней, то поторопитесь!..