Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ)
Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.
Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.
Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru
Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ)
Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ) это один из способов преодолеть предел диффракции. Свет не может пройти через отверстие меньше половины длины волны (около 200 нм для видимого света). Но на расстояниях, сравнимых с длиной волны свет может «заходить» за плоскоcть отверстия
.
Новые направления в науке требуют новых методов исследования. Для получения наиболее полной информации об исследуемом образце необходим комплексный подход, объединяющий в себе возможности сразу нескольких измерительных методик.
Другими словами, если очень маленькое отверстие подвести очень близко к поверхности, свет сможет провзаимодействовать с веществом (рассеяться, отразиться, вызвать флуоресценцию). Поэтому людьми придуманы разные варианты устройств, позволяю их подводить свет к таким «очень маленьким» отверстиям (реальный диаметр отверстия 50–100 нм) и подводить сами такие «источники» света очень близко к поверхности.
- Практически все из известных схем СБОМ реализованы в приборе ИНТЕГРА Спектра (производства НТ-МДТ). НаноЛаборатория ИНТЕГРА Спектра — это первая в мире интеграция атомного-силового микроскопа (АСМ) с конфокальной КР /флуоресцентной микроскопией и спектроскопией.
Используются такие приборы для исследования оптических свойств поверхности с разрешением до 30 нм. Например, в производстве наноразмерных оптических устройств, фундаментальных исследованиях фотоники и плазмоники, а также для разработки технологий альтернативной энергетики (высокоэффективные фотопреобразователи).
Интегра Спектра
В том же приборе есть возможность соединить АСМ и спектроскопию комбинационного рассеяния (КР). Кроме простого соединения методов, прибор позволяет реализовать режим гигантского усиления сигнала КР (TERS – tip-enhanced Raman scattering). Этот режим дает возможность делать спектроскопию (которая по логике ограничена диффракцией) с разрешением до 14 нм!
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
Волокно со структурой фотонного кристалла
- СЭМ изображение сечения оптоволокна демонстрирует структуру фотонного кристалла в ядре волокна. б) Наложение изображений рельефа поверхности (красная палитра) и интенсивности света (зеленая палитра), по лученных СБОМ методом сбора излучения с сечения волокна
Подложки для SERS – золотая структура в форме «алмаза» на кварце
- АСМ изображение рельефа и б) изображение, полученное СБОМ методом пропускания. Периодичность структуры: 200 нм. Разрешение СБОМ изображения: около 50 нм.
Полимеры
Изображение полимера с гранулярной структурой, полученное с применением СБОМ в режиме «на отражение». Расстояние между двумя гранулами около 40 нм (увеличенный фрагмент), что иллюстрирует отличное пространственное разрешение метода.
Биологические объекты
СБОМ изображение митохондрий, окрашенных ФИТЦ-мечеными антителами
На этой странице есть статьи, в основном про TERS
Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) (Optical Imaging and Spectroscopy on the Nanometer Scale)
- nikst's блог
- Войдите на сайт для отправки комментариев
Новые направления в науке требуют новых методов исследования. Для получения наиболее полной информации об исследуемом образце необходим комплексный подход, объединяющий в себе возможности сразу нескольких измерительных методик.
Хорошее это дело… Наши поздравления и новых достижений!..