«Инженерный Клуб» провел конференцию по нанотехнологиям

Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.

Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу https://n-n-n.ru.
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.

Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru

6 декабря в Санкт-Петербурге в конгрессном центре «ПетроКонгресс» состоялась региональная научно-практическая конференция «Сканирующая зондовая микроскопия в промышленности: возможности, ограничения, интеграция с другими методическими подходами». Организатором мероприятия выступил «Инженерный Клуб» совместно с ФБУ «Тест–С.-Петербург» и ЗАО «НТ-МДТ»

Мероприятие посетили представители Российской академии наук, Нанотехнологического общества России, руководители промышленных предприятий и технических ВУЗов Санкт-Петербурга, Члены «Инженерного Клуба» и других некоммерческих организаций города, СМИ.

Эра активного использования нанотехнологий началась 25 лет назад с момента получения изобретателями сканирующего зондового микроскопа Нобелевской премии. Сканирующая зондовая микроскопия является одним из мощнейших методов исследования поверхностей.

В рамках работы конференции участники смогли обсудить вопросы применения СЗМ, специфики аттестации методик, преимущества атомно-силовых микроскопов, вопросы оснащения лабораторий и производственных участков. Особенно интересным оказался доклад гостьи из Финляндии. Еева Вииникка, директор «Culminatum Innovation», национальный координатор нанотехнологического кластера, рассказала о достижениях финского кластера и пригласила на семинар «Нанотехнологии для машиностроения», организуемый совместно с «Инженерным Клубом» в Санкт-Петербурге в марте 2012 года.

Для всех желающих посмотреть работу сканирующего зондового микроскопа в действии была проведена демонстрация прибора СОЛВЕР НЕКСТ компании «НТ-МДТ».

2165.jpg

Подробная информация на сайте www.enginclub.ru

Пожалуйста, оцените статью:
Пока нет голосов
Источник(и):

portalnano