Характеристики микрочипов можно улучшить «отсечением»
Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.
Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.
Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru
Американские исследователи из Университета Райса совместно с коллегами из Швейцарии и Сингапура разработали оригинальный способ повышения производительности и энергетической эффективности микрочипов.
Учёные под руководством профессора Кришны Палема предлагают улучшить характеристики чипов путём «отсечения» редко использующихся элементов интегральных схем. Идея заключается в том, чтобы позволить процессорам совершать ошибки. Исследователи поясняют, что, тщательно рассчитав вероятность ошибок и ограничив типы операций, при выполнении которых они допустимы, можно одновременно снизить потребление энергии и поднять производительность.
Для демонстрации возможностей технологии был создан экспериментальный чип, у которого на одной кремниевой подложке расположены обычные и «усечённые» электронные цепи. Тестирование показало, что последние обеспечивают двукратный выигрыш в быстродействии, энергопотреблении и занимают вдвое меньше места по сравнению с традиционными цепями.
Следующая цель исследователей — воспользовавшись новой методикой, получить прототип микрочипа для конкретной области применения. Работы над таким изделием планируется начать нынешним летом.
Не исключено, что в перспективе предложенная технология поможет в создании портативных устройств с увеличенным временем автономной работы.
- Источник(и):
- Войдите на сайт для отправки комментариев