Руководитель федерального агентства по техническому регулированию Г.И. Элькин подписал акт о приеме в эксплуатацию инструментального и методического комплекса по метрологическому обеспечению и оценке соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

Центр по метрологическому обеспечению и подтверждению соответствия продукции и технологий наноиндустрии ВНИИОФИ создавался в рамках ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008—2011 годы». На его создание выделено из федерального бюджета 177,5 млн рублей и 20,4 млн рублей внебюджетных средств.

Начались выпуск и продажа стандартных образцов диаметра наносфер золота в жидкой среде Начались выпуск и продажа стандартных образцов диаметра наносфер золота в жидкой среде (ГСО-9629–2010 – комплект ЗН). Стандартные образцы были разработаны в рамках ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в РФ».

В состав комплекта входят коллоидные суспензии наночастиц золота диаметром 10, 30 и 60 нм. Образцы предназначены для испытаний и поверки средств измерений, отработки методик измерения параметров наночастиц, в том числе в пробах биологического происхождения.

Новые методики выполнений измерений по медицине

Разработаны четыре новые методики выполнений измерений по медицине:

• Референтная методика измерений молярной концентрации лития в сыворотке крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией (FAAS).
• Референтная методика измерений магния в сыворотке крови.
• Референтная методика измерений молярной концентрации кальция в плазме крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией.
• Референтная методика измерений молярной концентрации магния в плазме крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией.
• Модернизация автоматизированного интерференционного микропрофилометра (АИМ)

Подразделения ВНИИОФИ провели модернизацию автоматизированного интерференционного микропрофилометра (АИМ).

Микропрофилометр предназначен для бесконтактного автоматического измерения микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, а также высотных и шаговых параметров шероховатости.