Новая техника, названная корреляционной свет-ионной микроскопией (CLIM), объединяет в себе ионную и флюоресцентную микроскопии для получения топографической и биохимической информации для одного и того же участка образца.

Идея этой методики принадлежит Молли Стивенс и её коллегам из Императорского колледжа Лондона (Великобритания). Однажды им довелось наблюдать неизвестные структуры при проведении характеристических тестов образцов человеческой ткани. В этот момент учёные, по их словам, осознали, что до сих пор нет простого и эффективного метода для корреляции структурной и биохимической информации на микро- и наноуровнях. Следовательно, оставалось только одно — объединить уже существующие техники так, чтобы их можно было применять на одном и том же образце, что очень часто весьма проблематично.

Рис. 1. Обе микроскопии — сканирующая ионная SIM (слева) и флюоресцентная (справа) — используют один и тот же образец, предоставляя топологическую и биохимическую информацию. (Микрофотография Molly Stevens / Imperial College London).

Например, сканирующая электронная микроскопия, предоставляющая очень точную структурную информацию, требует использования сухого образца, накатанного тонким слоем с нанесённой поверх защитой. А флюоресцентная микроскопия, которая предоставляет биохимические данные, обычно требует образцов, находящихся в водных условиях. Таким образом, обе методики не могут использовать один и тот же образец, что затрудняет построение каких-либо корреляций.

В случае со сканирующей ионной микроскопией (SIM) для получения структурной информации используется пучок ионов галлия вместо электронов, который не интерферирует с флюоресцентным сигналом и может использовать для своей работы тот же образец, что и флюоресцентная микроскопия.

Учёные надеются, что их метод найдёт применение в самых разных областях науки, включая биотехнологию, биоматериаловедение и клеточную биологию, особенно когда необходимо получать информацию in situ, на месте.

Суть корреляционной свет-ионной микроскопии описана в статье, опубликованной в журнале Nanoscale.