Российские ученые из Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ» (НИЯУ МИФИ) впервые научили нейросеть анализировать и искать наночастицы через микроскоп.

Для того, чтобы научить нейросеть выполнять эту задачу, ей нужно показать нескольких десятков тысяч размеченных фото. Это такие специальные изображения, которые показывают, какую задачу будет выполнять нейросеть. Это, по словам ученых, крайне затруднительно для ряда узкоспециальных научных задач.

Для того, чтобы обойти эту проблему, ученые не размечали реальные фотографии, чтобы обучить нейросеть, а генерировали имитирующие их изображения на компьютере.

СЭМ (сканирующий электронный микроскоп) использующий вместо видимого света пучок электронов, применяется при изучении наночастиц, синтезируемых для медицины и других целей. Анализ снимков СЭМ заключается в обнаружении частиц и распределении их по размерам. Нейросетевые подходы в этой области не развиты, а стандартные методы обработки изображений не дают нужного качества, – Александр Харин, специалист Инженерно-физического института биомедицины НИЯУ МИФИ.

Результаты исследования позволят автоматизировать обработку снимков СЭМ, совершив переворот в стандартных методах исследования новых материалов, уверены ученые.

Эта работа, считают авторы, поможет не только сократить время исследования, но и увеличить количество анализируемых частиц — от сотен единиц до десятков тысяч. В дальнейшем научный коллектив собирается автоматизировать классификацию наночастиц.