Метрология измерения размеров в нанометровом диапазоне и первые российские стандарты для нанотехнологий (Форум, второй день, 4 декабря)

Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.

Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу https://n-n-n.ru.
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.

Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru

На Международном форуме по нанотехнологиям в секционном заседании по теме «Нанодиагностика» программы начно-технических секций прозвучал доклад, разработанный д.ф.-м.н. В.П. Гавриленко, Ю.А. Новиковым, А.В. Раковым, П.А. Тодуа (ОАО «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»).

После прочтения доклада, прошла живая дискуссия под руководством Ковальчука. Предлагаем вашему вниманию аудио-версию данного выступления mietrologhiia.mp3

IMG_4215.jpg

Опубликовано в NanoWeek,


Пожалуйста, оцените статью:
Пока нет голосов