3 июня откроется выставка «Метрология-2008»

С 3 по 5 июня 2008 года в Москве (ВВЦ, павильон №55) пройдет Международная выставка-конкурс средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2008» и научно-практическая конференция «Точность рождает качество».

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» выступили с инициативой организации на выставке специализированного раздела, отражающего современное состояние измерений и испытаний наноматериалов и созданной на основе наноматериалов продукции, перспективы создания системы оценки и подтверждения соответствия и обеспечения безопасности использования нанотехнологий и продукции наноиндустрии, а также пути развития стандартизации и нормативного обеспечения в сфере нанотехнологий и наноматериалов.

Приглашаются все заинтересованные организации и предприятия представить разработки, обеспечивающие решение проблем измерений и подтверждения соответствия продукции наноиндустрии, в разделе нанотехнологий на выставке «Метрология-2008», которые могут стать для его участников основой долгосрочного сотрудничества и будут способствовать успешному развитию работ в этом перспективном направлении науки и техники.

http://www.cnews.ru/…/index.shtml?…

«Последнее китайское предупреждение»?..;-) Мы уже не первый раз сообщаем об этой выставке – http://www.nanonewsnet.ru/…ologiya-2008. Время ещё есть. Возможно, у организаторов возникли некоторые трудности в привлечении участников экспозиции? Хотя, с другой стороны, вон хотя бы «Росатом» какие выставки собирал!.. А, может быть, именно как раз поэтому? В любом случае, я полагаю, выставка на данную тему очень важна, наверняка будет интересна и поучительна. Так что и мы приглашаем всех заинтересованных лиц и организации посетить её и познакомиться с её экспонатами и экспонентами…