Микроскопические конденсаторы для сверхъемкой памяти
Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.
Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.
Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru
Компьютерные компании продолжают поиск универсального запоминающего устройства для замены сегодняшних жестких дисков. Устройство должно иметь большую емкость, быть энергонезависимым, быстродействующим, маломощным, допускать перезапись данных, и все это при достаточно низкой стоимости.
Одна из альтернатив – сегнетоэлектрическая память (Ferroelectric RAM – FeRAM или FRAM), аналогичная по конструкции другой полупроводниковой памяти DRAM, в которой вместо обычного диэлектрика используют сегнетоэлектрик. При большом числе преимуществ (низкая рассеиваемая мощность, высокая скорость записи и рекордно большое число циклов записи-стирания (более 1016), имеются и два существенных недостатка – низкая плотность упаковки и высокая стоимость производства.
Возможно, эти недостатки будут преодолены при внедрении в массовое производство нового технологического процесса, разрабатываемого совместно исследователями Max Planck Institute of Microstructure Physics (Германия), Pohang University of Science and Technology (Корея) и Korea Research Institute of Standards and Science. Новый метод позволит получить дешевый метод производства сегнетоэлектрических запоминающих устройств с рекордно высокой плотностью упаковки.
Метод использует тонкую (100 нм) перфорированную маску из оксида алюминия (Al2O3) для формирования трехслойных структур Pt/PbZrTiO3/Pt c расстоянием между соседними структурами не более 60 нм. Последовательность технологических этапов представлена на рис.
Рис. Последовательность технологических этапов формирования структур Pt/PbZrTiO3/Pt
Основное достижение метода – способ формирования перфорированной маски электрохимическим окислением тонкой алюминиевой фольги. В процессе окисления в образовавшемся оксиде формируются нанопоры достаточно случайным образом. Однако если тщательно подобрать температуру, уровень pH и химический состав электролита (что и сделали немецко-корейские авторы), то можно получить упорядоченную гексагональную структуру расположения пор лишь с незначительными нарушениями.
Далее методом небольшого принуждения – предварительное формирование (выдавливание) на поверхности Аl фольги системы точек с помощью наноиндентера, авторы получили полностью регулярную структуру на большой поверхности.
Затем изготовленную маску с миллиардами пор помещают на MgO пластину, покрытую тонким слоем Pt и нагретую до 650°C, и сквозь эту маску осаждают лазерным испарением тонкие островки сегнетоэлектрической PbZrTiO3 керамики толщиной 30–50 нм и металла (Pt) в качестве верхнего электрода. Затем маску удаляют в селективном травителе. Таким образом формируется система наноемкостей, в эксперименте расстояние между соседними емкостями составляли 60 нм.
С.Т.К.
- Источник(и):
-
Phys.stat.sol. (RRL), 2008, v. 2, no 4, p. A54
- Войдите на сайт для отправки комментариев