С 19 по 21 марта Российская корпорация нанотехнологий (РОСНАНО) примет участие в 5-ой Специализированной выставке-конкурсе «Метрология – 2009». На выставке будут представлены передовые средства измерения, инновационные промышленные технологии и научные разработки.

Корпорация представит на выставке экспонаты в области метрологического обеспечения, стандартизации, оценки и подтверждения соответствия продукции наноиндустрии, а также первые 13 лабораторий, метрологических центров, центров коллективного пользования, аккредитованных в Системе сертификации «НАНОСЕРТИФИКА» и способных выполнять оценку соответствия и контроль безопасности нанотехнологий, наноматериалов, продукции на их основе (дополнительная информация о представленных экспонатах, лабораториях и Системе сертификации «НАНОСЕРТИФИКА» по запросу ).

Приглашаем ВАС посетить стенд РОСНАНО:

19–21 мая, ВВЦ, павильон №55, метро ВДНХ, 11:00– 18:00.

С вопросами о выставке обращайтесь к Боровик Наталье: 8–985–970–03–29.

Для аккредитации на мероприятие : Пучков Александр 8–916–188–94–55.