«Умка» обрела новые «мозги»

Друзья, с момента основания проекта прошло уже 20 лет и мы рады сообщать вам, что сайт, наконец, переехали на новую платформу.

Какое-то время продолжим трудится на общее благо по адресу https://n-n-n.ru.
На новой платформе мы уделили особое внимание удобству поиска материалов.
Особенно рекомендуем познакомиться с работой рубрикатора.

Спасибо, ждём вас на N-N-N.ru

-->

Компания СМ-Консалт осуществила разработку нового программного обеспечения для нанотехнологического комплекса «УМКА», разработанного Концерном «Наноиндустрия».

Разработка этого ПО велась с использованием адаптированной специалистами «СМ-Консалт» технологии IBM Rational. ПО существенно упрощает использование комплекса, повышает качество визуализации образцов и снижает квалификационные требования к начальной компьютерной подготовке пользователей за счет упрощения пользовательского интерфейса и более оптимальной работы. Кстати, это делает возможным использование микроскопа не только в научных организациях, но и в любых учебных: школах, колледжах и ВУЗах.

Пример работы микроскопа «Умка»: нанотрубки на графитовой бумаге

Созданный на основе сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) нанотехнологический комплекс (НТК) «УМКА» предназначен для проведения демонстрационных, исследовательских и лабораторных работ на атомно-молекулярном уровне в области физики, химии, биологии, медицины, генетики и других фундаментальных и прикладных наук, в том числе, технологических работ в сфере наноэлектроники. «УМКА» является прекрасным инструментом для обучения современным практическим методам работы с наноразмерными структурами. Комплекс может быть также с успехом использован для исследований в научных и промышленных лабораториях. Основной профиль компании СМ-Консалт – ИТ-консалтинг и разработка программного обеспечения. Поставка и настройка ПО, необходимого для улучшения процессов разработки и сопровождения, а также разработка встраиваемого ПО.

Опубликовано в NanoWeek,


Пожалуйста, оцените статью:
Ваша оценка: None Средняя: 3.5 (2 votes)
Источник(и):

Нанометр